Предназначенный для модернизации серийно выпускаемых микроскопических систем и анализаторов с целью получения цифровых изображений микроскопических объектов, с компенсацией искажений, вызванных аберрациями, а также неоднородностями среды распространения оптического излучения.
Разработано совместно с НИУ «»ИТМО»».